Scanning-sondemikroskopi
Scanning-sondemikroskopi (engelsk: Scanning Probe Microscopy, SPM) er en klasse af mikroskopi-metoder, hvor en spids nål - en sonde - bringes meget tæt på en overflade for at måle den. Ved at bevæge sonden henover overfladen kan et billede dannes.
Et SEM-billede af en sonde, der bruges til piezorespons kraftmikroskopi.
SPM blev opfundet af Gerd Binnig og Heinrich Rohrer i 1981 i form af scanning-tunnelmikroskopi, hvor der mellem sonden og overfladen løber en meget svag strøm pga. kvantemekanisk tunnelering.[1]
Kildehenvisninger
- Salapaka, Srinivasa; Salapaka, Murti (2008). "Scanning Probe Microscopy". IEEE Control Systems Magazine. 28 (2): 65-83. doi:10.1109/MCS.2007.914688. ISSN 0272-1708.
| Almindelige typer |
|  |
|---|---|---|
| Andre |
| |
| Anvendelser |
| |
| Se også |
| |
 | Spire Denne artikel om fysik er en spire som bør udbygges. Du er velkommen til at hjælpe Wikipedia ved at udvide den. |
This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.