Scanning-sondemikroskopi

Et SEM-billede af en sonde, der bruges til piezorespons kraftmikroskopi.

Scanning-sondemikroskopi (engelsk: Scanning Probe Microscopy, SPM) er en klasse af mikroskopi-metoder, hvor en spids nål - en sonde - bringes meget tæt på en overflade for at måle den. Ved at bevæge sonden henover overfladen kan et billede dannes.

SPM blev opfundet af Gerd Binnig og Heinrich Rohrer i 1981 i form af scanning-tunnelmikroskopi, hvor der mellem sonden og overfladen løber en meget svag strøm pga. kvantemekanisk tunnelering.[1]

Kildehenvisninger

  1. ↑ Salapaka, Srinivasa; Salapaka, Murti (2008). "Scanning Probe Microscopy". IEEE Control Systems Magazine. 28 (2): 65-83. doi:10.1109/MCS.2007.914688. ISSN 0272-1708. Arkiveret fra originalen 15. juni 2017. Hentet 4. oktober 2020.
Spire
Denne artikel om fysik er en spire som bør udbygges. Du er velkommen til at hjælpe Wikipedia ved at udvide den.
This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.